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產(chǎn)品中心半導(dǎo)體光學(xué)檢測(cè)系列SiC晶圓少子壽命質(zhì)量成像監(jiān)測(cè)系統(tǒng)
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產(chǎn)品分類(lèi)
熒光壽命成像,晶圓位錯(cuò)缺陷檢測(cè),SiC晶圓質(zhì)量成像檢測(cè)系統(tǒng)：晶圓襯底質(zhì)量（載流子壽命）高速成像，快速篩查外延片晶格質(zhì)量。
更新時(shí)間：2025-11-05
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